紫外可見分光光度計(jì)

產(chǎn)品簡介
采用微機(jī)測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換，自動調(diào)整0%（T）和調(diào)整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯(lián)樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口。

產(chǎn)品型號：UV757系列

更新時間：2025-04-20

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

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UV757CRTUV757CRTPC紫外可見分光光度計(jì)主機(jī)功能：
采用微機(jī)測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換，自動調(diào)整0%（T）和調(diào)整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯(lián)樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機(jī)，另行選配）。

UV757CRTUV757CRTPC紫外可見分光光度計(jì)聯(lián)機(jī)功能：
通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴(kuò)展測試功能（除主機(jī)功能外）。

UV757CRTUV757CRTPC技術(shù)指標(biāo)：
● 波長范圍：200nm～1000nm
● 光源：鎢鹵素?zé)?2V20W（進(jìn)口） DD2.5氘燈（進(jìn)口）
● 接收元件：光電池
● 波長zui大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復(fù)性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）
● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）
● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000（A）
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%（T）
● 穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

其它：
● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz

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